DIFRACCION DE RAYOS X

Difracción de rayos x

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Rejillas, monocromador y el detector. El detector contiene xenón; este tipo de gas es adecuado para detectar la radiación de longitud de onda larga.

¿Que es?

Partes microscopio

La difracción de rayos en muestra policristalina permite abordar la identificación de fases cristalinas tanto en su aspecto cualitativo como cuantitativo.

La difracción de rayos X se producen al interaccionar un haz de rayos X, de una determinada longitud de onda, con una sustancia cristalina

El laboratorio de difracción de rayos x alberga un difractómetro El equipo tiene la configuración Bragg-Brentano. Los principales componentes son el tubo de rayos x con ánodo de cobre, con un sistema cerrado de enfriamiento (agua).

+ info

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Los rayos x se generan en el tubo, que es una ampolla al vacío que alberga al electrodo positivo (ánodo) y el negativo (cátodo).

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El cátodo contiene un filamento de tungsteno por donde viajan los electrones, producidos por una diferencia de potencial de 45,000 voltios, que chocan con el blanco de cobre.

Los electrones que chocan con el blanco producen los rayos x de fondo que atraviesan por una ventana de berilio que, debido a su bajo número atómico, permite el paso de los rayos x.

Un haz de rayos X inside sobre un cristal, los haces difractados son muy intensos en ciertas direcciones,, lo que corresponde a interferencia constructiva de ondas reflejadas en capas de átomos en el cristal.

La estructura cristalina puede deducirse con las intensidades de los puntos en el patron

Los hazes difractados forman un arreglo de puntos conocidos como patron de lawer.

SOFTWARE DICVOL91

Es un programa de indexación (asignación de índices de Miller (hkl) a los máximos) de diagramas de rayos X en muestra policristalina basado en el método prueba-error. En él se incluye la búsqueda en los 7 sistemas cristalinos: cúbico, tetragonal, hexagonal, trigonal, rómbico, monoclínico y triclínico.

Está basado en un algoritmo de sucesivas búsquedas dicotómicas, que realiza una exploración en el espacio de los posibles parámetros de celda, fraccionándolo en diferentes intervalos de volúmenes de celda.

El objetivo de este programa es indexar un difractograma y, en base a ello, dar una posible celda unidad. Obtenemos el posible sistema cristalino al que pertenece el material a estudio y sus parámetros de celda, pero no el grupo espacial.

BIBLIOGRAFIA

LOUER, D. AND LOUER, M., METHODE D'ESSAIS ET ERREURS POUR L'INDEXATION AUTOMATIQUE DES DIAGRAMMES DE POUDRE, J. APPL. CRYST. 5, 271-275 (1972). LOUER, D. AND VARGAS, R., INDEXATION AUTOMATIQUE DES DIAGRAMMES DE POUDRE PAR DICHOTOMIES SUCCESSIVES, J. APPL. CRYST. 15, 542-545 (1982). https://www.scielo.org.mx/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S2448-56912010000200062 https://www.ehu.eus/imacris/PIE06/web/DRXP.htm https://www.redalyc.org/pdf/1816/181642434002.pdf https://www.cuvsi.com/2016/01/difraccion-de-rayos-x-en-la.html

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